제품소개

TSP 검사장비

Flexible TSP 검사기 최초 양산 공급

FPCB 검사기

- ITO 특성 검사를 통한 FPCB 양불 판정

- Max 7인치 교체 용이

- 100um pitch contact 가능

- Tact Time : IC dependent

ITO 검사기

- 특성 검사를 통한 ITO 양불 판정

- Max 7인치 모델 교체 용이

- Tact Time : IC Dependent

모듈 검사기

- TSP 모듈 특성 검사를 통한 양불 판정

- 양산 비용 절감(4ch 동시 검사)

- Max 5인치 모델 교체 용이

· FW 다운로드 기능 포함
· USB로 검사 결과 저장(4ch 모듈 검사기 제외)
· IC : STMicro, Samsung LSI, Cypress, Synaptics, Imagis, Zinitix, Atmel 등 적용
· 모델 교체 비용 절감

01

다양한 검사 / 제어 기술

Open/Short
회로의 Open/Short 검사
부품검사
Cap 성능 / Diode 성능 / Resistance 성능 / Inductor / Dome 스위치
ICT검사
Hall IC / RF IC / Touch IC / Grip Sensor IC / Wacom / TSP IC
제어
모터제어 / 실린더 제어(Sol) / 센서류(photo 센서 등)
RF검사
Network Analyzer
PC프로그램
데이터 로그 분석

02

최소단위 부품 ~ 완제품 검사

  • · FPCB / PCB / Sub PBA
  • · TSP Sensor/Module
  • · TSP Force Sensor
  • · 지문인식 Sensor
  • · MST*검사 / 인덱스 장비
  • · RF성능 / VSWR*
  • · Data 자동분석

- Voltage Standing Wave Ratio , Magnetic Secure Transmission

03

제품 품질 확보

  1. Touch Screen

  2. Force Touch

  3. Main PCB

  4. FPCB

  5. Antenna

  6. VSWR

  7. 인덱스 장비

  8. MST


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